平均粒度仪

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平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。是利用空气泵打出一定量的气体,通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面,最后由U形压力计及流量阻力系数,而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。广泛应用于磁性材料粉末,硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末,另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。
中文名
平均粒度仪
测量范围
0.2-50微米、50-100微米
重复性
±3%
电    源
220V±22V

平均粒度仪简介

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平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师,至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂,把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪,在99年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪,后期转为丹东华宇仪器有限公司。
Fisher Sub-Sieve Sizer 仪器最早于1943年在美国fisher公司生产,直到2008年该美国fisher公司停止生产该仪器。国内市场生产的平均粒度仪主要是丹东华宇仪器有限公司的产品,主要型号有WLP-202、205、208、216等等,在07年丹东华宇仪器有限公司针对于国外用户需要又增加了WLP-205A平均粒度测定仪、WLP-208A平均粒度测定仪,这二款都扩大了测量范围。

平均粒度仪应用范围

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由于是空气透过法,对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。
广泛应用于磁性材料粉末,硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末,另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。

平均粒度仪仪器原理

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是利用空气泵打出一定量的气体,通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面,最后由U形压力计及流量阻力系数,而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。

平均粒度仪技术指标

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测量范围:0.2-50微米、50-100微米
孔隙度范围:0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95
精度:±3%
重复性:±3%
电源:220V±22V
重量:18KG
外形尺寸:735×415×245mm3
其计算公式如下:
K—形状系数
ε—孔隙度
η—空气粘度
g—重力加速度
ΔΡ—气体压力
U—流速
L—粉末层厚度
仪器图片
WLP-208平均粒度测定仪
WLP-216平均粒度测定仪
针阀专利证书
声明:本公司生产的平均粒度仪,不会产生稳压管倒流。
词条标签:
仪器